TY  - JOUR
AU  - Barrett N.
AU  - Rault J.E.
AU  - Wang J.L.
AU  - Mathieu C.
AU  - Locatelli A.
AU  - Mentes T.O.
AU  - Niño M.A.
AU  - Fusil S.
AU  - Bibes M.
AU  - Barthélémy A.
AU  - Sando D.
AU  - Ren W.
AU  - Prosandeev S.
AU  - Bellaiche L.
AU  - Vilquin B.
AU  - Petraru A.
AU  - Krug I.P.
AU  - Schneider C.M.
PY  - 2013
DO  - 10.1063/1.4801968
UR  - http://hdl.handle.net/20.500.12614/2002
T2  - Journal of Applied Physics
LA  - en
TI  - Full field electron spectromicroscopy applied to ferroelectric materials
TY  - research article
VL  - 113
ER  -