RT Journal Article
T1 Improving the reliability of silicon diodes via manufacturing process modification strategies
A1 Román-Sánchez S., 
A1 París Ogáyar M., 
A1 Lorite I., 
A1 Fernández J.F., 
A1 Serrano A., 
A1 Moure A., 
YR 2024
FD 2024
LK http://hdl.handle.net/20.500.12614/3536
UL http://hdl.handle.net/20.500.12614/3536
LA en
DS Repositorio institucional de IMDEA Nanociencia
RD 29 abr. 2026