TY  - JOUR
AU  - Prieto P.
AU  - Marco J.F.
AU  - Prieto J.E.
AU  - Ruiz-Gómez S.
AU  - Pérez, Lucas
AU  - del Real R.P.
AU  - Vázquez M.
AU  - de la Figuera J.
PY  - 2018
DO  - 10.1016/j.apsusc.2017.12.111
UR  - http://hdl.handle.net/20.500.12614/1575
T2  - Applied Surface Science
LA  - en
M2  - 1067
TI  - Epitaxial integration of CoFe 2 O 4 thin films on Si (001) surfaces using TiN buffer layers
TY  - research article
VL  - 436
ER  -